FPGA测试相关论文
随着集成电路设计与半导体工艺水平的迅速发展,FPGA结构复杂度和集成度日益增大,针对FPGA的测试问题日趋尖锐,成为了除成本、功耗......
针对GJB 5000A-2008验证与确认工作域对航空装备FPGA产品规定不具体的现状,凝练总结了航空装备FPGA软件特点,结合GJB 5000A-2008验......
随着FPGA(FieldProgrammableGateArray)器件的应用越来越广泛且重要，FPGA的测试技术也得到了广泛重视和研究。基于FPGA可编程的特性......
JPEG2000成为最新的静态影像标准后逐渐地占领了互联网、手机通信、数码相机等领域的图像处理应用市场。JPEG2000采用基于上下文的......
本文以Xilinx系列FPGA（Field Programmable Gate Array）器件为主要的研究对象。在详细研究FPGA内部结构的基础上，对其中的可编程逻辑......
FPGA在许多领域已经得到广泛应用，其测试问题也显得越来越突出。文章针对基于SRAM结构FPGA的特点，以Xilinx公司的XC4000系列芯片为例......
可编程逻辑门阵列(FPGA)技术迅速发展,广泛应用于各种电子系统中,与此同时,对FPGA测试的需求也日益增多。针对FPGA的测试方法和特......
以Xilinx公司FPGA的理论结构为结构模型，提出了FPGA测试中的故障屏蔽现象，并给出该现象的产生原因和判断条件，在此基础上进一步提出相......
随着FPGA集成度和复杂性的增加,测试显得尤为重要。为了保证数字系统工作的稳定性,首先就要保证FPGA芯片的可靠性。从SRAM型FPGA的......
以XilinxXC4000系列FPGA（Field Programmable Gate Array）器件为主要的研究对象，在详细研究FPGA内部结构的基础上，对其中的可编程逻辑......
现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)由于其体积小,能耗低,性能高和可反复编程等优点成为电子系统设计的主流芯......
随着集成电路技术的高速发展,基于可编程互连资源的现场可编程门阵列(FPGA)器件的应用越来越广泛,FPGA区别于ASIC器件的重要特征是......
波形编辑软件作为数据域测试的重要仪器,在测试设备中发挥着重要的作用,正日益引起人们的重视。并且它是随着用户自定义的测试波形......
基于Xilinx公司的现场可编程门阵列FPGA XC6VLX240T-2FF1156I,JTAG端口配置烧写时间远大于测试时间,并且搭建实装测试平台不适合大......
目前常用的FPGA器件测试方法为基于实际应用的编程测试方法,其关键在于选择什么样的测试模型。论文在研究了FPGA器件的结构和工作......
针对FPGA的逻辑资源测试,提出了一种内建自测试方法。测试中逻辑资源划分为不同功能器件,对应各个功能器件设计了相应的BIST测试模......
针对FPGA软件测试过程中仿真测试和实物测试的不足,提出了一种基于仿真测试用例的实物自动化测试环境,将用于仿真测试的Testbench......
主要介绍了一种新型的基于网络的FPGA远程测试服务系统的原理及其实现方法。该系统建立在以逻辑分析仪及动态探头的综合应用为核心......
FPGA内BRAM的测试是目前测试领域研究的重点.利用FPGA本身可以部分重配置的特点,改进BIST结构可以缩短测试时间降低测试成本.全部......
近十年来,FPGA行业获得了突飞猛进的发展,芯片规模的增大和内部资源的丰富使得FPGA成为了实现数字系统的主流平台之一。随着FPGA的......
现场可编程门阵列(FPGA)可以重复编程使用,可以根据用户的需要进行电路系统的修改和写入,具有无需特别定制,适用范围广的特点。越......
FPGA是可由用户配置的高密度ASIC芯片,本文以Xilinx公司的RAM型FPGA为例,介绍了一种用高速测试系统实现FPGA器件测试的方法。阐述......
随着半导体工艺水平的不断进步,现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)器件的集成度更高、性能更强,其内部结构也......
在FPGA的设计生产过程中,FPGA的测试是一个至关重要的环节。分析了基于SRAM配置技术的FPGA的结构组成及FPGA的基本测试方法。针对6......
随着集成电路技术的快速发展,现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)行业发展迅猛、市场需求增加、半导体工艺技......
随着FPGA在各种工业应用越来越广泛,FPGA重构技术在快速的FPGA自动测试中应用越来越广泛。传统的基于JTAG方式和基于配置芯片的FPG......
由于FPGA互联资源故障定位是FPGA故障测试的一个难点，尤其需要准确地判断故障的类型和精确地定位故障的位置，因此文中提出一种通过故......
通过对基于SRAM结构的FPGA测试方法进行分析和研究,提出了FPGA测试中的故障屏蔽现象,并给出该现象的产生原因和判断条件,在此基础......
一个SOC芯片的面市包括了设计、验证和生产等,其中验证所耗费的时间和费用占了整个SOC芯片成本的70%-80%。因此,对SOC验证技术的研......
随着FPGA规模和复杂度的不断提高,FPGA的测试也变得越来越复杂。FPGA是一种可编程器件,其测试方法也与ASIC测试有很大的不同。FDP-......
随着当前半导体工艺的迅速发展,FPGA的复杂度和集成度也变得越来越高。随之而来的测试成本和测试时间的大幅增加也让FPGA可测性问......
现场可编程门阵列(FPGA)器件近几年来发展迅速,作为一种功能强大的可编程器件,它在集成电路新产品研发阶段以及小批量ASIC电路使用......
FPGA独特的可重构计算技术不仅能够降低数字系统的开发风险与开发成本、缩短上市时间,而且通过动态编程、远程在线重构等技术可以......
随着信息技术的高速前进,特别是高速传输接口技术的发展,传统并行接口技术由于已经遇到了速度上的瓶颈,因此很难进一步发展,取而代......
FPGA是广泛应用于集成电路设计等多种领域的关键器件之一,随着FPGA的迅速发展,对FPGA的测试得到了广泛重视和研究,其测试技术也越......
针对现场可编程门阵列（field programmable gate array，FPGA）芯片验证和测试，提出一种导航布局布线方法．该方法可生成用于FPGA芯片测试......
自二十世纪80年代以来,现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)器件的发展不断进步。FPGA是一种现场可编程的专用......
FLASH型FPGA以其高可靠性、高安全性、上电即可运行的特点,在军工和航天领域中得到了广泛的应用,但其复杂的结构对测试的可靠性和......
